首页>>供应信息
快速筛选:

行业分类:设备及配件-铝加工分析检测设备-能谱仪筛选条件

地区搜索

PHI飞行时间二次离子质谱仪分析横向分辨率的成像

PHI 飞行时间二次离子质谱仪分析横向分辨率的成像

摘要:飞行时间二次离子质谱(TOF- SIMS)是一种表面敏感的技术,提供表面分子,元素及其同位素前几个原子层的组成图像。所有元素和同位素,包括氢气都可以用飞行时间二次离子质谱分析。在理论上,该仪器可以在一个无限大的质量范围内提供很高的质量分辨率(在实践中通常是大约 10000amu)。

[上海 闵行]上海禹重实业有限公司加为商友

PHIX射线光电子能谱仪QuanteraII表面分析仪器

PHI X 射线光电子能谱仪Quantera II表面分析仪器

摘要:X 射线光电子能谱(XPS)是材料科学和发展的领域中最广泛使用的表面分析技术。其原理是利用X射线束(一般会使铝阳极或镁阳极)作为入射源,照射在样品表面导致让光电子从原子的核心层被激发出。根据测得的光电子所发出的电子动能,再依照能量守恒定律就可以知道电子的结合能,从而也就可知道样品表面是何物质。

[上海 闵行]上海禹重实业有限公司加为商友

PHIX射线光电子能谱仪VPII表面分析化学成像

PHI X 射线光电子能谱仪VP II表面分析化学成像

摘要:X射线光电子能谱仪(X-ray Photoelectron Spectrograph)用于固体样品的表面组成分析、化学状态分析;化学态的深度分析;线扫瞄或面扫瞄以得到线或面上的元素或化学态分布;成像功能;进行样品的原位处理等等多个方面。

[上海 闵行]上海禹重实业有限公司加为商友

手持式光谱仪

手持式光谱仪

摘要:Genius XRF系列是专门针对在现场,野外进行X荧光分析的应用而设计,具有体积小,重量轻,普通人可手持测量的特点;产品超小、超轻、超美、超安全、超方便、超长待机时间、超防水、超准、超快等特点,并在小型X射线仪上引入了数字多道技术,使仪器检出限更好,稳定性更高,适用面更广。

[江苏 昆山]江苏天瑞仪器股份有限公司加为商友

点击这里给我发消息

友情链接[申请连接]

天拓咨询 | 搜铝商务网 | 微天下 |

全球铝业网 | 关于我们 | 法律声明 | 招聘英才 | 帮助中心 | 付款方式 | 联系我们 | 铝 链 通 | 意见反馈 | 网站地图 | 热点关键词

地址:上海市普陀区桃浦路226号 联系电话:021-32160865、32160866 传真:021-32160868
Copyright © 2010-2014     邮箱:alu1886@126.com    沪ICP备1021712